最近，我一直在问为什么弯曲不敏感多模光纤（BIMMF）不能用于测试跳线。理由是，非BIMMF（例如，“传统”光纤）越来越难以采购，安装人员需要灵活地购买现成的产品。此外，正在请求更改一个IEC测试标准，不强制要求在测试跳线中使用非BIMMF。让我们更仔细地研究这一点，并探讨其后果。

首先，一些技术或其他相关事实：

福禄克网络提供多模测试参考跳线，专门设计用于与多模电缆测试设备配合使用——所有测试均使用非BIMMF；光纤的供应来源不是问题。

其他测试供应商仅将非BIMMF用于测试跳线，与光纤供应商没有任何问题。

为了使用LED实现正确的****条件（例如，环绕磁通），必须去除高阶模式——实际上，只有在非BIMMF的情况下才可能。

由于泄漏模式在玻璃中传播，BIMMF的长度可能与数值孔径和芯直径有关。净影响是对已安装电缆的衰减测量，这可能与使用非BIMMF启动测试线时不同。

在BIMMF上很难验证环绕磁通符合性，因为由于泄漏模式，也需要测量远场，但在非BIMMF上仅需测量近场。换句话说，****沿光纤方向变化。

除非有办法使用特殊的实验室设备进行近场****测量，否则不可能将现成的BIMMF或非BIMMF与设计用于环形通量合规性的当前测试设备一起使用。

大约8年前，50/125μm弯曲不敏感多模光纤（BIMMF）被引入。在此之前，主要光纤供应商都在生产非BIMMF光纤。在过去几年中，随着BIMMF越来越流行，一些供应商停止生产非BIMMF。虽然这有利于安装电缆，减少因紧弯曲而产生的工艺问题，但它使TIA、IEC和ISO/IEC测试标准与行业方向不一致。为了实现多模光纤（例如，环形通量）的正确****条件，需要非BIMMF，这是标准仍然要求的。

由于标准是由各种专家编写的，因此没有人希望被排除在外。测试标准要求测试设备供应商遵守文件中规定的具体要求。有时，布线供应商、光纤供应商和测试线缆供应商可能会与测试供应商要求遵守的标准不一致。

根据IEC 61280-4-1《已安装多模光纤电缆装置的衰减测量》修订版，目前针对****线（LSPM——光源/功率计；附录F为环绕通量要求）规定了以下内容（如有变更）：

使用LSPM测试BIMMF或非BIMMF电缆时，应使用符合附录F中规定的****条件要求的非BIMMF****线。在选择测试跳线时需要格外小心。为了优化测试，应使用测试设备供应商提供或推荐的测试线。

为了保持适当的****条件，测试设备供应商使用了不同的实施策略。一种方法是在外部测试线上使用一个在工厂调谐的心轴。另一种方法是在光源内调整****，并在光源舱壁处实现****条件。然后，将外部测试线连接至隔板，无需芯轴。然而，这种“modally transparent”测试线必须具有非常严格的光学和物理特性，以保持正确的****。无论采用何种实施方法，都需要非BIMMF。

如果使用BIMMF使用现成的测试线进行电缆和光纤测试，会发生一些事情。首先，认证测试不太可能被接受——这将很难显示环绕通量和标准符合性。其次，如果不使用环绕通量****，测量的链路衰减可能会导致链路测量失败，尤其是在损耗预算很小的情况下。以上由福禄克工程师提供，对福禄克仪器仪表感兴趣的还可以联系福禄克指定经销商—明辰智航。（www.mingczh.com）

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