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如何测试光纤系统中的插入损耗
MCZH0904 | 2021-10-26 11:11:42    阅读:146   发布文章

由于插入损耗是影响光纤链路支持给应用能力的主要性能参数,因此根据行业标准,光纤认证测试需要插入损耗。像福禄克网络CFP光纤测试仪这样的光损耗测试集,通过在一端使用光源,在另一端使用功率计精确测量从另一端发出的光的数量,在链路上提供最精确的插入损耗测量。TIAISO标准都使用术语“Tier 1”来描述OLT测试。

 

一些项目还将指定扩展的Tier 2”测试,该测试需要光学时域反射计(OTDR)来表征单个拼接和连接器的损耗。OTDR通过将光脉冲传输到光纤并测量光量来实现这一点

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从每个脉冲反射。OTDR通常也需要用于计算特定连接器的回波损耗,因此对于短距离单模等应用至关重要,其中最大插入损耗基于信道中连接器的数量和回波损耗。需要注意的是,在第2层测试中使用OTDR并不能取代OLT,因为OTDR实现的总插入损耗测量是一种推断计算,不一定描述链路一旦通电后将发生的总损耗。因此,即使规范需要扩展的Tier 2测试,仍然需要通过OLTS进行Tier 1插入损耗测试。在这些情况下,还建议在OLTS插入损耗测试之前完成OTDR特性描述,因为这是最终合规性证明所必需的。

光纤插入损耗测试程序

当今多模光纤系统中的插入损耗测试要求使用环绕通量(EF)****条件来降低测量不确定度。此方法控制如何将光****到被测光纤中,以防止可能导致悲观结果的过量****或可能导致乐观结果的不足****。福禄克网络仅为所有多模光纤类型提供850 nm1300 nmEF兼容测试仪和测试参考跳线。了解更多,关注福禄克经销商—明辰智航!(www.mingczh.com)


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